Description rapide :

Cette technique est utilisée en appui de la Diffraction des Rayons X. Elle permet à l’aide de calcul mathématiques de modéliser un diffractogramme théorique correspondant à l’expérimental étudié. Elle donne accès de façon précise aux paramètres de maille du matériau, aux tailles des cristallites et à la position des atomes dans la maille.

Description longue :

Pas de définition disponible pour cette expertise

Applications en recherche fondamentale :

Applications industrielles :